SCANNING ELECTRON MICROSCOPE（走査型電子顕微鏡）一式の該非判定方法
new-nakamura～技術士による実務解説～
企業や大学、研究機関では、**SCANNING ELECTRON MICROSCOPE（SEM：走査型電子顕微鏡）**が広く使用されています。
SEMは、材料表面の微細構造を高倍率で観察・分析する代表的な分析装置であり、半導体、電子部品、自動車、金属、化学、医療など、幅広い産業分野で不可欠な設備となっています。
一方で、高性能な電子顕微鏡やその関連技術は、安全保障貿易管理上、輸出規制の対象となる場合があります。
そのため、海外への輸出や技術提供に際しては、外為法に基づく該非判定が必要となります。
SEM一式とは何を意味するのか
実務上、「SEM一式」とは本体だけではありません。
一般的には次のような構成品が含まれます。
- SEM本体
- 電子銃
- 真空装置
- 試料ステージ
- 二次電子検出器（SE）
- 反射電子検出器（BSE）
- EDS分析装置
- EBSD分析装置
- 制御コンピュータ
- 制御ソフトウェア
- モニター
- 真空ポンプ
- 冷却装置
- 付属品
- 補修部品
- 据付・保守マニュアル
- 提供技術
したがって、「SEM一式」の該非判定では、本体だけではなく、一式を構成する貨物・ソフトウェア・提供技術まで含めて総合的に判定する必要があります。
該非判定で確認すべきポイント
技術士は、例えば次のような事項を確認します。
- SEMの方式
- 分解能
- 加速電圧
- 電子銃の種類
- 真空性能
- 検出器の種類
- EDS・EBSDの有無
- 制御ソフトウェアの内容
- 提供技術の範囲
- 保守技術の内容
さらに、
外為法だけではなく、
EAR（米国輸出管理規則）
の適用対象となる部品やソフトウェアが含まれていないかについても確認する必要があります。
技術士による総合的な該非判定
SEMは、多数の高度な技術から構成される代表的な精密分析装置です。
そのため、型式や仕様書だけで判断することは困難であり、
- 装置全体の構成
- 付属装置
- ソフトウェア
- 提供技術
- 補修部品
まで含めた総合的な評価が必要になります。
このような該非判定には、
電子工学、真空技術、材料工学、分析技術、安全保障貿易管理制度など、幅広い専門知識と豊富な実務経験が求められます。
STGの該非判定サービス
株式会社サブラヒ・テクノロジスツ（STG）では、
SEM本体だけではなく、
SEM一式
について、
- 該非判定書作成
- EAR確認
- 提供技術判定
- 付属品・部分品判定
- 補修部品判定
まで一括して対応しております。
また、電子顕微鏡だけではなく、
生産設備一式、分析装置一式、化学プラント、製造設備などについても、現地調査を含めた総合的な該非判定を実施しております。
該非判定でお困りではありませんか？
STGでは、
貨物単体だけではなく、生産設備一式、分析装置一式、付属品、部分品、補修部品、提供技術まで含めた総合的な該非判定を承っております。
技術士が直接対応し、お客様の実情に応じた実務的な判定書を作成いたします。
どうぞお気軽にお問い合わせください。
